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適合測量曲面反射率、鍍膜評價(jià)、微小部品的反射率測定系統



USPM-RU III反射儀可**測量當前分光儀無(wú)法測量的微小、薄樣本的光譜反射率,不會(huì )與樣本背面的反射光產(chǎn)生干涉。



USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀的特點(diǎn):


◆消除背面反射光
采用特殊光學(xué)系,消除背面反射光。不必進(jìn)行背面的防反射處理,可正確測定表面的反射率。

◆可測定微小領(lǐng)域的反射率
用對物鏡對焦于小區域(φ60μm),可測定鏡片曲面以及鍍膜層斑點(diǎn)。

◆測定時(shí)間短
使用Flat Field Grating(平面光柵)和線(xiàn)傳感器的高速分光測定,可迅速實(shí)現再現性很高的測定。

◆XY色度圖、L*a*b測定可能
以分光測定法為基準,從分光反射率情況可測定物體顏色。

◆可測定的Hard Coat(高強度鍍膜)膜厚
用于涉光分光法,可以不接觸、不破壞地測定被測物的膜厚(單層膜)。



USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀主要用途:

1、各種透鏡(眼鏡透鏡、光讀取透鏡等)

2、反射鏡、棱鏡以及其他鍍膜部品等的分光反射率、膜厚測定(單層膜)

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