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產(chǎn)品概覽 技術(shù)規格 資料下載 行業(yè)應用

臺式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級


我們以“更高畫(huà)質(zhì)、更易于使用、更易于觀(guān)察”為理念,開(kāi)發(fā)出TM4000系列。

在此基礎上,我們又推出功能更為多樣的TM4000Ⅱ系列。

為您提供全新的觀(guān)察和分析應用。




觀(guān)察圖像3分鐘??裳杆佾@得所需數據,并制作報告。


觀(guān)察與分析的靈活性
自動(dòng)獲取各類(lèi)數據??焖偾袚Q!

可快速獲得元素分布圖*2


*1TM4000PlusⅡ的功能。

*2選配

使用Camera Navi*的話(huà),就是如此簡(jiǎn)單
Camera Navi圖像讓您輕松找到視野,分布圖(MAP)功能全程支持您的觀(guān)察


*選配:Camera Navi系統


操作簡(jiǎn)單且快捷
觀(guān)察圖像只需 3 分鐘。
可快速觀(guān)察圖像,并導出測試報告。
Report Creator可讓您輕松制作報告
只需選擇圖像和模板,就可以制作Microsoft Word、Excel、PowerPoint格式的報告


即便是絕緣物樣品,也無(wú)需預處理,就可直接進(jìn)行觀(guān)察。
“靜電減輕模式”可抑制靜電現象
對于容易產(chǎn)生靜電的樣品,可使用“靜電減輕模式”,在抑制靜電的狀態(tài)下進(jìn)行觀(guān)察。
只需用鼠標在軟件上點(diǎn)擊即可切換到“靜電減輕模式”。

可在低真空的條件下進(jìn)行多種觀(guān)察
對于容易產(chǎn)生靜電的粉末或含水等樣品,可結合其目的進(jìn)行觀(guān)察。


可在低真空的條件下進(jìn)行二次電子像(表面形狀)觀(guān)察。
無(wú)需預處理,也可以觀(guān)察絕緣物和含水、含油樣品的表面
不僅是觀(guān)察傳統的導電性樣品,還可以在無(wú)預處理的條件下觀(guān)察絕緣物和含水、含油樣品??煽焖龠M(jìn)行二次電子像與背散射電子像之間的切換。
高感度低真空二次電子檢測器
采用高感度低真空二次電子檢測器(UVD)。通過(guò)檢測由于電子線(xiàn)與殘留氣體分子之間的碰撞而產(chǎn)生的光,可以觀(guān)察帶有二次電子信息的圖像。此外,通過(guò)控制該檢測器,來(lái)檢測電子照射所產(chǎn)生的光,可以獲得CL信息(UVD-CL:帶有CL信息的圖像)。

高感度低真空二次電子檢測器的檢測原理


可支持加速電壓20 kV
TM4000Ⅱ/TM4000Plus II可支持加速電壓20 kV。
憑借EDS分析(選配),可進(jìn)行更高計數率解析。
通過(guò)加速電壓20 kV,實(shí)現EDS元素分布圖的高S/N化


Multi Zigzag(選配)
可實(shí)現在廣域范圍內進(jìn)行SEM觀(guān)察。
搭配自動(dòng)馬達臺,可實(shí)現低倍率,高精度,大范圍的觀(guān)察分析。

EM 樣品臺(選配
可輕松觀(guān)察 STEM 圖像
與全新開(kāi)發(fā)的 STEM 樣品臺和高靈敏度低真空二次電子檢測器(UVD)配合使用,可輕松觀(guān)察小倍率 STEM 圖像。
可輕松觀(guān)察薄膜樣品和生物樣品。

* UVD為 TM4000Plus II上的配件。

樣品:研磨劑
加速電壓:20 kV
觀(guān)察信號:(a) STEM 圖像, (b) 背散射電子像
放大倍率:10000 倍

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