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搭載直線(xiàn)排列了多個(gè)振子的陣列探頭


以電子方式移動(dòng)焦點(diǎn),能高速獲得半導體、電子零部件、IGBT等電源模塊內部影像的裝置。

關(guān)于圖像顯示速度,如果測定間距相同,與通過(guò)單探頭的機械掃描進(jìn)行的焦點(diǎn)移動(dòng)方式相比,可高速顯示。




什么是電子掃描技術(shù)


單探頭方式就是對一個(gè)超聲波振子施加脈沖電壓,利用由該振子的尺寸、形狀、曲率所決定的1個(gè)固定超聲波束進(jìn)行掃描。 

另一方面,電子掃描方式采用呈短柵狀排列的振子構成的陣列探頭,通過(guò)以電子方式改變振子的驅動(dòng)時(shí)序,從而自由控制超聲波束的角度、焦點(diǎn)。 

并進(jìn)一步通過(guò)電子方式切換陣列振子,以實(shí)現高速掃描的技術(shù)。 通過(guò)組合使用電子掃描和機械掃描,可在短時(shí)間內高速測量分布較廣的被檢測件。

                                                    

陣列探頭(振子面)                                                                        電子掃描示意圖


特點(diǎn)
電子掃描方式實(shí)現*大75MHz(公稱(chēng)頻率)的高頻,通過(guò)陣列探頭進(jìn)行的線(xiàn)形掃描可高速測定,在短時(shí)間內獲得被檢體內部發(fā)生的剝離,微小孔隙等的影像。
例如,當以200μm的間距掃描30mm方形的被檢體時(shí),約4秒鐘可完成測定,高速顯示深度方向的平面圖像(以下簡(jiǎn)稱(chēng)為C掃描),確認反射回聲強度的分布。 另外,在即時(shí)顯示斷面圖像(以下簡(jiǎn)稱(chēng)B掃描)的同時(shí),還可進(jìn)行波形顯示(以下簡(jiǎn)稱(chēng)A掃描),在觀(guān)察檢測對象內部狀況時(shí)發(fā)揮其威力。

                                                                              

                                        C掃描顯示例                                                                                              A掃描+B掃描顯示例


功能


電子掃描方式高速超聲波映像裝置ES5100系列具備通過(guò)電子掃描特有的秒速測定,在掃描的同時(shí)能確認的實(shí)時(shí)圖像顯示和高精細的解析顯示功能。
實(shí)時(shí)圖像顯示

A+B掃描顯示

C掃描顯示



高精細的解析顯示

多點(diǎn)波形顯示

縮略圖分層顯示

3D模塊顯示

3向截面圖(回聲高度顯示)

所有波形導入模式

回聲高度強調顯示(選購件)



局部浸水法*
這是一種可應對電源模塊等難以適用全沒(méi)浸水法的被檢體的測定方法。為了盡可能地減少與水的接觸,將超聲波陣列探頭放置在被檢體下方,讓下方充滿(mǎn)的水與被檢體接觸,從而進(jìn)行測定。
*僅讓探傷面與探頭之間局部有水的測定方法。

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