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用于智能化工廠(chǎng)高速檢測的共焦線(xiàn)傳感器


借助 CHRocodile CLS 2.0,您能夠以很高的速度測量高斜率和復雜的表面并且避免陰影。高速 3D 共焦線(xiàn)傳感器幾乎可以對所有材料,甚至是難以測量的材料

進(jìn)行高度精 確的測量,并且分辨率很高。





其通用性確保能夠合格完成各種測量。更重要的是,CHRocodile CLS 2.0 還有助于降低運營(yíng)成本,節省時(shí)間,并確保工業(yè) 4.0 應用中的 100% 控制。


除此之外還有*重要的一項優(yōu)勢,那就是高速 3D 共焦線(xiàn)傳感器 CHRocodile CLS 2.0 比其他替代設備更小、更輕。
 

在半導體行業(yè)的應用: 引線(xiàn)鍵合檢測、凸點(diǎn)測量、包裝晶圓邊緣檢查、切割槽檢查、缺陷、裸片裂縫、光掩膜光刻。


在消費電子領(lǐng)域的進(jìn)一步應用: 外殼形貌檢查,輕微、中等和高度彎曲表面的檢查、倒角和轉角檢查、直徑/孔/梯形表面檢查、特殊高度物體的外觀(guān)檢查。



優(yōu)勢

——高速度、高精度
憑借 2,160 萬(wàn)個(gè)測量點(diǎn)和每秒高達 36,000 行的掃描速度,CHRocodile CLS 2.0 非常適合對周期時(shí)間要求極高的在線(xiàn)質(zhì)量控制應用。同時(shí),這種傳感器提供的數據具有非常高的橫向和軸向分辨率,可實(shí)現精準測量。


——高度靈活
這種共焦線(xiàn)傳感器的通用性可滿(mǎn)足各種測量需求,例如,形貌結構和厚度測量、成分、分層、透明材料下的表面,以及復雜的幾何形狀。即使是難以測量的材料,例如漫反射、粗糙、彩色、拋光或反射表面,CHRocodile CLS 2.0 也能高速地進(jìn)行準確測量。

無(wú)陰影

CHRocodile CLS 2.0 的線(xiàn)性結構與入射光和反射光重疊。因此,在測量特定的幾何形狀時(shí),不會(huì )出現任何問(wèn)題,而三角反射測量則會(huì )出現陰影問(wèn)題。


——易于更換的光學(xué)探頭
該傳感器配置了三個(gè)易于更換的光學(xué)探頭,僅需輕松轉換即可使用合適的探頭。您可以選擇*長(cháng)達12 mm 線(xiàn)程的探頭,用于大型部件的快速檢測,或者選擇優(yōu) 質(zhì)數值孔徑的短線(xiàn),用于測量高度傾斜的表面,例如測量智能手機、電池或手表顯示玻璃的倒角。

——點(diǎn)密度高
CHRocodile CLS 2.0 以每行 1,200 個(gè)點(diǎn)的密度來(lái)掃描物體。結合與像素間距相當的橫向高分辨率和良好的軸向分辨率,可以獲得高密度的必要信息和優(yōu) 質(zhì)的測量結果。


技術(shù)數據
測量速度:*高每秒 36,000 行
測量范圍:680 - 10600 μm*
橫向分辨率:1 - 8.5 μm*
與外部設備同步:觸發(fā)輸入,同步輸出,5 個(gè)編碼器輸入,動(dòng)態(tài)鏈接庫 (DLL) 示例代碼
* 具體取決于使用的光學(xué)探頭
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